Profilômetro de Superfície
Um perfilômetro de superfície é um instrumento de medição de precisão projetado para avaliar a rugosidade da superfície, a textura e as características do microperfil com alta precisão. O profilômetro de superfície utiliza tecnologia avançada de detecção de contato ou óptica para capturar variações detalhadas da altura da superfície, permitindo uma análise confiável de características finas da superfície. O profilômetro de superfície é amplamente utilizado em processos de inspeção de qualidade, onde a caracterização precisa da superfície é essencial para o controle de fabricação e a consistência do produto.
- Linearidade: ±(0,7 |0,12H|)μm
- Circularidade: ±(1,2 R/12)μm
- Ângulo: ±1′
- Retitudo: 00,5μm/100mm
Descrição do Produto
Introdução
O profilômetro de superfície desempenha um papel fundamental na garantia de qualidade industrial moderna, ao fornecer medições de superfície rápidas, repetíveis e altamente precisas. Comparado aos métodos manuais tradicionais de inspeção, ele melhora significativamente a eficiência da medição, reduz o erro do operador e garante uma produção consistente de dados para avaliação de produção. Esse sistema é comumente aplicado na fabricação de semicondutores, engenharia automotiva, componentes aeroespaciais e indústrias de usinagem de precisão, onde são exigidos rigorosos padrões de qualidade de superfície.
Principais Recursos
- Desempenho Estável: Operação consistente e confiável.
- Transmissão Rápida: Transmissão rápida de dados para eficiência.
- Calibração Automática: Garante medições precisas com esforço mínimo.
- Medição Precisa: Fornece resultados de alta precisão para medições críticas.
- Resposta Rápida: Tempo de resposta rápido para análise eficiente.
- Monitoramento em Tempo Real: Monitora medições e exibe resultados em tempo real.
Profilômetro de Rugosidade - Especificações Técnicas
Funções de Medição de Contorno:
- Dimensões: Distância horizontal, distância vertical, distância linear, raio e diâmetro.
- Ângulos: Ângulo horizontal, ângulo vertical e ângulo incluído.
- Tolerâncias Posicionais: Paralelismo e perpendicularidade.
- Tolerâncias de Forma: Retitude, convexidade e tolerâncias de perfil de arco.
- Geração Auxiliar: Pontos auxiliares, linhas auxiliares e círculos auxiliares.
Análise de Criptogramas:
- Ra, Rammax, Ramin, Rasd, Rp, Rpmax, Rpmin, Rpsd, Rv, Rvmax, Rvsd, Rz, Rz, Rzmax, Rzmin, Rzsd, R3z, Rc, Rc, Rcmax, Rcmin, Rcsd, Rt, Rqmax, Rqmin, Rdsd, Rsk, Rskmax, Rsmin, Rsksd, Rku, Rkumax, Rkusd, Rkusd, Rsm, Rsm, Rsmmax, Rsmmin, Rsmsd, Rs, R△a, R△amax, R△amin, R△asd, R△qq, R△qmax, R△qmin, R△qsd, Rk, Rk, Rpk, Rvk, Mr1, Mr2, Rλa, Rλamax, Rλamin, Rλasd, Rλq, Rλqmax, Rλqmin, Rλqsd, Rδc, Rpc, Rmr
Análise de Ondulação:
- Wa, Wamax, Wamin, Wasd, Wsa, Wca, Wa08, Wc, Wcmax, Wcmin, Wcsd, Wt, Wz, Wzmax, Wzsd, Wp, Wpmax, Wpmin, Wpsd, Wv, Wvmax, Wvsd, Wcsd, Wq, Wqmax, Wqmin, Wqsd, Wsm, Wsmmax, Wsmmin, Wsmsd, Wsk, Wsk, Wskmax, Wskmin, Wsksd, Wku, Wkumax, Wkusd, W△q, W△qmax, W△qmax, W△qsd, Wδc, Wmr
Análise Original de Contorno:
- Pa, Pt, Pp, Pc, Pv, Pz, Pq, Psm, Psk, Pku, RzJ, Rpq, Rvq, Rmq, Pmr, P△q, Avh, Hmax, Hmin, Area, Pδc, Tilta
Parâmetros do Equipamento
| Faixa de medição | Condutor X-direction | 130mm | |
| Z1 | Faixa de medição do perfil | 40mm | |
| Z1 | Faixa de medição de rugosidade | ±1500μm | |
| Z1 | Resolução 0,02 micrômetros | ||
| Altura do eixo Z (coluna) | 550mm | ||
| Furo interno mínimo detectável | 10mm | ||
| Parâmetros técnicos de contorno | Linearidade | ±(0,7 |0,12H|)μm | |
| Circularidade | ±(1,2 R/12)μm | ||
| Ângulo | ±1′ | ||
| Retidão | 00,5μm/100mm | ||
| Parâmetros técnicos de rugosidade | Precisão de linearidade | ≤±5% | |
| Ruído residual | ≤0,005μm | ||
| Estabilidade de repetibilidade | Valor do teste 3% | ||
| Comprimento de onda de corte | 00,025, 0,08, 0,25, 0,8, 2,5, 8mm | ||
| Comprimento de avaliação | λcX1, 2, 3, 4, 5 | ||
| Sensor | Tipo | EUA | |
| Resolução | 00,02μm | ||
| Origem | EUA | ||
| Ângulo de ascensão | 77 graus de ascensão, 88 graus de descida | ||

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Faixa de Aplicação
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