Perfilador Profissional de Superfície para Stylus
Um Profilador Profissional de Superfície com Stylus é um instrumento de medição de alta precisão projetado para análise precisa da rugosidade da superfície e do perfil de componentes industriais. O Professional Stylus Surface Profiler utiliza um sensor de stylus diamante para traçar variações de microsuperfícies com resolução excepcional, convertendo texturas físicas da superfície em dados digitais precisos. O Professional Stylus Surface Profiler é ideal para aplicações que exigem rigorosa avaliação da qualidade da superfície e precisão repetível em ambientes de manufatura modernos.
- Medição: Tecnologia de perfilamento de sonda
- Sensor de Sonda: Sensor de baixa inércia (LIS3)
- Pressão da Sonda: Usando o sensor LIS3: 1 a 15mg
- Visualização de Exemplo: Ampliação selecionável, campo de visão de 1 a 4mm
Descrição do Produto
O Professional Stylus Surface Profiler integra tecnologia avançada de medição com uma plataforma estável e fácil de usar, proporcionando caracterização precisa da superfície para laboratórios modernos e ambientes de produção. Oferece excelente precisão, repetibilidade confiável e operação eficiente, tornando-se adequado tanto para pesquisas quanto para aplicações industriais de controle de qualidade.
Projetado para análise de superfícies de alta resolução, este sistema suporta rugosidade em escala nanométrica, altura de degrau e medição de topografia 3D. É amplamente utilizado em microeletrônica, semicondutores, fabricação de displays, energia solar, dispositivos médicos e pesquisa avançada de materiais, ajudando os usuários a alcançar controle superior de processos desde P&D até a inspeção final.
Perfilador Profissional de Superfície com Agulha – Medição de Altura de Passo e Rugosidade da Superfície em Nível Nanométrico
O Professional Stylus Surface Profiler é um sistema de medição de contato de alta precisão projetado para análise precisa da altura do passo, rugosidade da superfície e topografia 3D da superfície. Usando uma agulha de diamante que traça suavemente a superfície da amostra, captura variações finas da superfície com resolução e estabilidade excepcionais. Isso garante resultados de medição altamente confiáveis e repetíveis para aplicações industriais e laboratoriais exigentes.
Como Funciona
O sistema opera com base em um método de medição do tipo contato. À medida que a agulha se move pela superfície, seu deslocamento vertical reflete os contornos da superfície. Esse movimento é capturado como um sinal elétrico através de uma ponte de medição, gerando uma saída modulada em amplitude proporcional ao deslocamento vertical. O sinal é então amplificado, processado por retificação sensível à fase e filtrado para remover ruído e ondulação. Isso garante que a saída final seja um sinal limpo e estável, fornecendo medições precisas de altura e rugosidade do passo, livres de interferências externas e ondulações.
Principais Aplicações
- Metrologia de Wafers Semicondutores: Medição e análise precisas de pastilhas semicondutoras para garantir fabricação de alta qualidade.
- MEMS e Microestruturas: Perfilamento preciso de MEMS (Sistemas Microeletromecânicos) e microestruturas para medições detalhadas de superfície.
- Espessura do filme fino e do revestimento: Avaliação da espessura e uniformidade de filmes finos e revestimentos, críticos para diversos processos de fabricação.
- Perfilamento de Superfície de Células Solares: Medições precisas de superfície para células solares, otimizando desempenho e qualidade de fabricação.
- Óptica de Precisão e Dispositivos Médicos: Medição de óptica de precisão e dispositivos médicos para manter altos padrões de qualidade e desempenho.
Principais Recursos
- Desempenho Estável: Garante operação consistente com transmissão rápida, calibração automática e medição precisa.
- Design revolucionário de desktop: Alcança um equilíbrio entre alto desempenho, facilidade de uso e custo-benefício em um setup compacto de bancada.
- Design Compacto e Confiável: A configuração otimizada do hardware garante alta precisão, estabilidade e eficiência nos testes.
- Materiais Superiores e Durabilidade: Elaborado com materiais de alta qualidade para garantir durabilidade, longa vida útil e desempenho eficiente.
Características do Equipamento
- Desempenho Incomparável: Reprodutibilidade da altura dos degraus abaixo de 4A, com capacidades de varredura aprimoradas.
- Design de Arco Único: Proporciona estabilidade de rompimento, minimizando interferências de ruído ambiente e possibilitando uma ampla faixa vertical com varredura de baixa força.
- Eletrônicos Inteligentes Atualizados: Reduz o ruído e aumenta a precisão das medições, sendo capaz de medir alturas de degraus abaixo de 10nm.
- Configuração Otimizada de Hardware: Reduz o tempo de aquisição de dados em 40%, melhorando a eficiência da medição.
- Software Síncrono Vision64 de 64 bits: Acelera o processamento de dados, aumentando a velocidade de análise de dados em 10 vezes.
- Interface de Usuário Intuitiva: O software Vision64 oferece uma interface simplificada e amigável para facilitar a configuração e análise.
- Sistema Automático de Alinhamento das Pontas: Simplifica as mudanças da sonda com montagem auto-alinhada, reduzindo riscos durante a transição.
- Ampla Gama de Modelos de Sonda: Oferece vários tamanhos e formatos de sondas, garantindo compatibilidade com quase qualquer aplicação.
- Projeto de Sensor Único: Fornece medições de baixa força com amplo alcance de varredura em um único plano.
- Testes de Alta Produtividade: Garante testes rápidos e multiamostras para medições precisas de filmes finos com repetibilidade superior.
Parâmetros Técnicos
| Tecnologia de Medição | Tecnologia de perfilamento de sonda |
| Função de Medição | Medição de perfil de superfície 2D |
| Medição 3D opcional/ | |
| Vista de Exemplo | Ampliação selecionável, campo de visão de 1 a 4mm |
| Sensor de Sonda | Sensor de baixa inércia (LIS3) |
| Pressão da sonda | Usando o sensor LIS3: 1 a 15mg |
| Força Baixa (Opcional) | Usando o sensor de baixa força N-Lite: 0,03 a 15mg |
| Opções de Sonda | Faixa selecionável do raio de curvatura da sonda: 50nm a 25μm; |
| Pontas da relação altura-diâmetro (HAR): 10μm*2μm e 200μm*20μm; | |
| Pontas personalizadas estão disponíveis mediante solicitação. | |
| Estágio X/Y de Exemplo | Manual tradução X-Y: 100mm (4 polegadas) |
| Tradução motorizada X-Y: 150mm (6 polegadas) | |
| Amostra de Estágio Rotativo | Manual, rotação de 360°; |
| Motorizado: rotação de 360°; | |
| Sistema de Computador | Processador de linha multinúcleo de 64 bits, Windows* 7.0; Tela plana opcional de 23 polegadas |
| Software | software de operação e análise Vision64; |
| Software de medição de tensões: deflexão em balanço; | |
| Software de sutura: software de imagem de varredura 3D | |
| Dispositivo de Amortecimento de Vibração | Amortecimento de amortecimento disponível |
| Faixa de Comprimento de Varredura | 55mm (2 polegadas) |
| Pontos de dados por varredura | Até 120.000 pontos de dados |
| Espessura máxima da amostra | 50mm (2 polegadas) |
| Tamanho máximo da pastilha | 200mm (8 polegadas) |
| Reprodutibilidade em altura de degrau | <4A1σ em um passo de 1μm |
| Faixa vertical | 1mm (0,039 polegadas) |
| Resolução vertical | Máximo 1A (no alcance vertical de 6,55μm) |
| Tensão de entrada | 100 - 240 VAC, 50 - 60Hz |
| Faixa de temperatura | Faixa de Operação de 20 a 25°C (68 a 77°F) |
| Faixa de umidade | ≤80%, Não condensador |
| Tamanho e peso do sistema | 455mm L x 550mm D x 370mm H |
| (179 pol. Largura x 22,6 pol. D x 14,5 pol. H); | |
| 34 kg (75 lbs); | |
| Acessório: 550mm L x 585mm L x 445mm H (216in. L x 23 pol. Largado x 175 pol. H); | |
| 217 kg (48 lbs) |
Casos de Aplicação
- Testes em Filme Fino – Garantindo Altos Rendimentos:
Na fabricação de semicondutores, o instrumento Step ajuda a monitorar a uniformidade da deposição e da gravação, o estresse do filme fino e a espessura do filme fino do ITO. Sua alta reprodutibilidade garante medições precisas, otimizando a gravação e a deposição para melhores rendimentos. - Inspeção de Rugosidade da Superfície – Garantindo o Desempenho:
Ideal para avaliar a rugosidade da superfície em componentes de precisão em setores como automotivo, aeroespacial e dispositivos médicos. Por exemplo, mede a rugosidade dos revestimentos ortopédicos para implantes para garantir a qualidade e adesão do produto. - Análise de Linhas de Rede Solar – Redução dos Custos de Fabricação:
Perfeito para medir as dimensões das linhas condutoras de prata em painéis solares. O instrumento de degraus garante que o uso de prata seja otimizado para melhor condutividade, contribuindo para a economia de custos na produção de painéis solares. - Tecnologia Microfluídica – Detecção de Design e Desempenho:
Utilizado em tecnologia MEMS e microfluídica para testes de qualificação. A função de medição de NLite de baixa força permite a detecção precisa de degraus verticais e rugosidade em materiais fotossensíveis, garantindo precisão e desempenho no projeto.

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